地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

二次イオン質量分析法による低ノイズqCMOSカメラを用いた結像型同位体イメージング分析法の開発(MZZ45-09)(演旨)

論文題名（英語）=Development of a Stigmatic Ion Imaging Method of Secondary Ion Mass Spectrometry by Using a qCMOS Camera with Ultra-low Readout Noise (MZZ45-09)(abs.)

著者（日本語）=岡野 真理, 吉元 史, 伊藤 正一

著者（英語）=Shinri OKANO, Chikashi Yoshimoto, Shoichi Itoh

資料名（日本語）=日本地球惑星科学連合大会予稿集 (online)

資料名（英語）=Abstracts, Japan Geoscience Union Meeting (online)

巻=2024

頁=MZZ45-09

発行年=2024

発行者（日本語）=日本地球惑星科学連合

発行者（英語）=Japan Geoscience Union

論文の言語区分=JA

ID=300045043

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/300045043