地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

回折法とX線吸収分光(XAFS)法を用いた地球惑星物質の精密構造解析

論文題名(英語)=Precise structure analyses of the Earth and planetary materials by both diffraction and XAFS methods

著者(日本語)=吉朝 朗

著者(英語)=YOSHIASA Akira

資料名(日本語)=岩石鉱物科学

資料名(英語)=Japanese Magazine of Mineralogical and Petrological Sciences

巻=42

号=3

頁=111-122

発行年=2013

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本鉱物科学会

発行者(英語)=Japan Association of Mineralogical Sciences

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ISSN番号=1345630X

DOI=10.2465/gkk.130305

ID=201322399

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/201322399