地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

基礎から学ぶマススペクトロメトリー／質量分析の源流--第9回 Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)，クラスターSIMS，帯電液滴衝撃SIMS--

論文題名（英語）=Fundamentals of Mass Spectrometry - Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), Cluster SIMS, and Electrospray Droplet Impact SIMS -

著者（日本語）=平岡 賢三

著者（英語）=HIRAOKA Kenzo

資料名（日本語）=質量分析

資料名（英語）=Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan

巻=58

号=5

頁=175-184

発行年=2010

出版国=JPN

発行者（日本語）=日本質量分析学会

発行者（英語）=Mass Spectrometry Society of Japan

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ISSN番号=13408097

ID=201022825

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/201022825