地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

低希釈ガラスビード法による蛍光X線分析装置(RIX-2100)を用いた珪酸塩岩石中の主成分,微量成分の定量分析

論文題名(英語)=X-ray fluorescence (XRF; RIX-2100) analysis of major and trace elements for silicate rocks by low dilution glass bead method

著者(日本語)=隅田 祥光, 奥平 敬元, 古山 勝彦

著者(英語)=SUDA Y., OKUDAIRA T., FURUYAMA K.

資料名(日本語)=Magma

資料名(英語)=Magma

号=92

頁=21-39

発行年=2010

出版国=JPN

発行者(日本語)=火成作用研究会

発行者(英語)=Magmatism Research Group

論文の言語区分=JA

ID=201022288

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/201022288