地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]
論文題名（英語）=Trace Analysis of Hexavalent Chromium in Chromium Compound by X-Ray Photoelectrom Spectroscopy
著者（日本語）=飯島 善時, 岡部 康, 大浜 敏之, 高橋 秀之
著者（英語）=IIJIMA Yoshitoki, OKABE Kou, OHAMA Toshiyuki, TAKAHASHI Hideyuki
資料名（日本語）=X線分析の進歩，39
資料名（英語）=Advances in X-ray Chemical Analysis Japan, 39
頁=137-142
発行年=2008
出版国=JPN
発行者（日本語）=アグネ技術センター，東京
発行者（英語）=Agne Gijutsu Center, Tokyo
論文の言語区分=JA
アブストラクトの言語区分=JA, EN
ISSN番号=09117806
ISBN番号=978-4-901496-42-1
ID=201020534