地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]
論文題名（英語）=X-Ray Photoelectron Microscopic Imaging of the Chemical Bonding State of Si in a Rock Sample (abs.)
著者（日本語）=瀬山 春彦, 王 道元, 相馬 光之
著者（英語）=SEYAMA H., WANG D., SOMA M.
資料名（日本語）=日本鉱物学会，日本岩石鉱物鉱床学会学術講演会講演要旨集
巻=2004
頁=38-38
発行年=2004
出版国=JPN
発行者（日本語）=日本鉱物学会, 日本岩石鉱物鉱床学会
論文の言語区分=JA
ISSN番号=13486543
ID=200412461