地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

岩石の蛍光X線法による定量分析--Siの二次X線効果--(演旨)

著者(日本語)=柳 哮, 中田 節也, 前田 俊一, 方 大赫, 山口 勝

資料名(日本語)=日本地質学会第91年学術大会講演要旨

巻=91

頁=382-382

発行年=1984

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本地質学会

発行者(英語)=Geological Society of Japan

論文の言語区分=JA

DOI=10.14863/geosocabst.1984.0_382

ID=200307599

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200307599