Geological Literature
岩石の蛍光X線法による定量分析--Siの二次X線効果--(演旨)
柳 哮, 中田 節也, 前田 俊一, 方 大赫, 山口 勝
| item | description |
|---|---|
| Title | 岩石の蛍光X線法による定量分析--Siの二次X線効果--(演旨) |
| AuthorsJ | 柳 哮, 中田 節也, 前田 俊一, 方 大赫, 山口 勝 |
| Data name | 日本地質学会第91年学術大会講演要旨 |
| Volume | 91 |
| Page | 382-382 |
| Year | 1984 |
| Publisher | Geological Society of Japan |
| Language | JA |
| GEOLIS URL | https://darc.gsj.jp/archives/detail?cls=geolis&pkey=200307599 |
| DOI | 10.14863/geosocabst.1984.0_382 |
| @id | https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200307599 |