地質文献データベース [(独)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

X線粉末回折で結晶構造解析ができるRietveld法--合成紅簾石の結晶構造解析を例にして--(演旨)

著者(日本語)=永嶌 真理子!赤坂 正秀

資料名(日本語)=地学団体研究会総会プログラム・講演要旨

資料名(英語)=Program and Abstracts, Annual Meeting of the Association for Geological Collaboration in Japan

出版国=日本

巻=57

頁=131-132

発行年=2003

発行者(日本語)=地学団体研究会

発行者(英語)=Association for Geological Collaboration in Japan

論文の言語区分=JA

資料の種類=CO!SE

ID=200305805