地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

ガラスビードを用いた蛍光X線分析装置による珪酸塩岩石の主・微量成分分析--3倍・6倍・11倍希釈ガラスビード法の分析精度の評価--

論文題名(英語)=Major and Trace Components Analysis of Silicate Rocks by X-ray Fluorescence Spectrometer Using Fused Glass Beads: Evaluation of Analytical Precision of Three, Six, Eleven Times Dilution Fused Glass Beads Methods

著者(日本語)=谷 健一郎, 折橋 裕二, 中田 節也

著者(英語)=TANI Kenichiro, ORIHASHI Yuji, NAKADA Setsuya

資料名(日本語)=東京大学地震研究所技術研究報告

資料名(英語)=Technical Research Report, Earthquake Research Institute, University of Tokyo

号=8

頁=26-36

発行年=2002

発行者(日本語)=東京大学地震研究所

発行者(英語)=Earthquake Research Institute, University of Tokyo

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ISSN番号=13426486

ID=200304516

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200304516