地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]
論文題名（英語）=Precise Isotopic Analysis of Silicon Crystal using SIMS (abs.)
著者（日本語）=森下 祐一, 佐藤 久夫, 木多 紀子, 富樫 茂子
著者（英語）=MORISHITA Y., SATOH H., KITA N.T., TOGASHI S.
資料名（日本語）=日本地球化学会年会講演要旨集
資料名（英語）=Annual Meeting of the Geochemical Society of Japan
巻=47
頁=75-75
発行年=2000
出版国=JPN
発行者（日本語）=日本地球化学会
発行者（英語）=Geochemical Society of Japan
論文の言語区分=JA
ID=200010890