岩石中のジルコン1粒から解明する岩石の生い立ち--SIMSを用いたジルコンのU-Pb年代測定とその意義--

地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

著者（日本語）=小笠原正継, 木多紀子, 森下祐一, 富樫茂子

資料名（日本語）=地質調査所研究講演会資料, 微小領域分析が拓く地球科学--二次イオン質量分析法(SIMS)を中心にして--, 日本産業技術振興協会技術資料 No.301

巻=16

頁=25-29

発行年=2000

出版国=JPN

発行者（日本語）=日本産業技術振興協会

論文の言語区分=JA

ID=200006848