Geological Literature
岩石中のジルコン1粒から解明する岩石の生い立ち--SIMSを用いたジルコンのU-Pb年代測定とその意義--
小笠原 正継, 木多 紀子, 森下 祐一, 富樫 茂子
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| Title | 岩石中のジルコン1粒から解明する岩石の生い立ち--SIMSを用いたジルコンのU-Pb年代測定とその意義-- |
| AuthorsJ | 小笠原 正継, 木多 紀子, 森下 祐一, 富樫 茂子 |
| Data name | 地質調査所研究講演会資料, 微小領域分析が拓く地球科学--二次イオン質量分析法(SIMS)を中心にして--, 日本産業技術振興協会技術資料 No.301 |
| Volume | 16 |
| Page | 25-29 |
| Year | 2000 |
| Publisher | 日本産業技術振興協会 |
| Language | JA |
| @id | https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200006848 |