微小領域分析が拓く地球科学

地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

著者（日本語）=森下祐一

資料名（日本語）=地質調査所研究講演会資料, 微小領域分析が拓く地球科学--二次イオン質量分析法(SIMS)を中心にして--, 日本産業技術振興協会技術資料 No.301

巻=16

頁=1-6

発行年=2000

出版国=JPN

発行者（日本語）=日本産業技術振興協会

論文の言語区分=JA

ID=200006845