Geological Literature
微小領域分析が拓く地球科学
森下 祐一
| item | description |
|---|---|
| Title | 微小領域分析が拓く地球科学 |
| AuthorsJ | 森下 祐一 |
| Data name | 地質調査所研究講演会資料, 微小領域分析が拓く地球科学--二次イオン質量分析法(SIMS)を中心にして--, 日本産業技術振興協会技術資料 No.301 |
| Volume | 16 |
| Page | 1-6 |
| Year | 2000 |
| Publisher | 日本産業技術振興協会 |
| Language | JA |
| GEOLIS URL | https://darc.gsj.jp/archives/detail?cls=geolis&pkey=200006845 |
| @id | https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200006845 |