地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]
論文題名（英語）=Quantitative X-ray microanalysis of sheet silicates by analytical TEM with ultra thin window type EDS
著者（日本語）=上原 誠一郎
著者（英語）=UEHARA Seiichiro
資料名（日本語）=超高分解能電子顕微鏡による鉱物の微細組織と超構造, 文部省科学研究費補助金（一般研究C）研究成果報告書（平成6年度）（課題番号05640538）
頁=32-33
発行年=1996
出版国=JPN
発行者（日本語）=上原 誠一郎（九州大学理学部）
論文の言語区分=JA
ID=199903904