地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

改良イオンビーム・スパッタ法による高分解能走査電子顕微鏡(HRSEM)観察のための試料作成

論文題名(英語)=Sample Preparation for Observation with High Resolution Scanning Electron Microscope (HRSEM) by Ion-beam Sputter Coating

著者(日本語)=滝沢 茂, 大野 良樹

著者(英語)=TAKIZAWA Shigeru, OHNO Yoshiki

資料名(日本語)=鉱物学雑誌

資料名(英語)=Journal of the Mineralogical Society of Japan

巻=28

号=2

頁=65-69

発行年=1999

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本鉱物学会

発行者(英語)=Mineralogical Society of Japan

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ISSN番号=04541146

DOI=10.2465/gkk1952.28.65

ID=199902828

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/199902828