地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]
論文題名（英語）=Measurement of light elements in silicon using by secondary ion mass spectrometry 2: Diffusion of carbon and boron implanted into silicon (abs.)
著者（日本語）=湯谷 美奈, 比屋根 肇, 杉浦 直治, 浜野 洋三
著者（英語）=YUTANI M, HIYAGON H., SUGIURA N., HAMANO Y.
資料名（日本語）=地球惑星科学関連学会合同大会予稿集
資料名（英語）=Abstracts, Japan Earth and Planetary Science Joint Meeting
巻=1997
頁=796-796
発行年=1997
出版国=JPN
発行者（日本語）=日本地震学会, 日本火山学会, 日本測地学会, 日本地球化学会, 日本惑星科学会
発行者（英語）=Seismological Society of Japan, Volcanological Society of Japan, Geodetic Society of Japan, Geochemical Society of Japan, Japanese Society for Planetary Sciences
論文の言語区分=JA
ID=199710378