地質文献データベース [(独)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

二次イオン質量分析法によるシリコン中の軽元素の深さ方向測定--内核中の拡散係数の測定のために--(演旨)

論文題名(英語)=Measurement of light element in silicon using by secondary ion mass spectrometry (abs.)

著者(日本語)=湯谷 美奈!比屋根 肇!杉浦 直治!浜野 洋三

著者(英語)=YUTANI M.!HIYAGON H.!SUGIURA N.!HAMANO Y.

資料名(日本語)=地球惑星科学関連学会合同大会予稿集

資料名(英語)=Abstracts, Japan Earth and Planetary Science Joint Meeting

出版国=日本

巻=1996

頁=534-534

発行年=1996

発行者(日本語)=日本地震学会!日本火山学会!日本測地学会!日本地球化学会!日本惑星科学会!日本岩石鉱物鉱床学会!地球電磁気.地球惑星圏学会!日本鉱物学会!資源地質学会!日本第四紀学会

発行者(英語)=Seismological Society of Japan ! Volcanological Society of Japan ! Geodetic Society of Japan ! Geochemical Society of Japan ! Japan Society for Planetary Science ! Japanese Association of Mineralogists, Petrologist and Economic Geologists ! Society of Geomagnetism and Earth, Planetary and Space Sciences ! Mineralogical Society of Japan ! Society of Resource Geology ! Japan Association for Quaternary Research

論文の言語区分=JA

資料の種類=CO!SE

ID=199612521