地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

X線回折法を用いた新しい表面構造解析法

論文題名(英語)=A New Method for the Surface Structure Analysis by X-ray Diffraction

著者(日本語)=高橋 敏男

著者(英語)=TAKAHASHI Toshi

資料名(日本語)=固体物理(抜刷)

資料名(英語)=Solid State Physics (offprint)

巻=23

号=10

頁=780-787

発行年=1988

出版国=JPN

発行者(日本語)=アグネ技術センター

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ISSN番号=04544544

ID=198806643

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198806643