Geological Literature
SIMS(二次イオン質量分析法)
森下 祐一
| item | description |
|---|---|
| Title | SIMS(二次イオン質量分析法) |
| AuthorsJ | 森下 祐一 |
| Data name | 資源環境地質学--地球史と環境汚染を読む-- |
| Page | 309-312 |
| Year | 2003 |
| Publisher | Society of Resource Geology, Tokyo |
| Language | JA |
| @id | https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200316148 |