地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

鑛物の光軸角を薄片にて測る方法に就て

著者（日本語）=坪井 誠太郎

資料名（日本語）=地質学雑誌

巻=24

号=282

頁=149-155

発行年=1917

出版国=JPN

発行者（日本語）=東京地質学会

論文の言語区分=JA

DOI=10.5575/geosoc.24.282_149

ID=88813610

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/88813610