地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]
論文題名（英語）=Geological applications of particle-induced X-ray emission (PIXE): quantitative trace element microanalysis of single fluid inclusion in quartz
著者（日本語）=黒澤 正紀, 島 貞純, 加藤 工, 末野 重穂, 石井 聡, 島 邦博
著者（英語）=M. Kurosawa, S. Shimano, T. Kato, S. Sueno, S. Ishii, K. Shima
資料名（日本語）=タンデム加速器による粒子線科学, 筑波大学加速器センター25周年記念シンポジウム
頁=22-25
発行年=2000
発行者（日本語）=筑波大学加速器センター
論文の言語区分=JA
アブストラクトの言語区分=EN
ID=300045769