地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]
論文題名（英語）=Possibility of crystal structural refinement of thin-section samples by using wavelength scanning X-ray diffraction method (abs.)
著者（日本語）=松浦 優介, 萩谷 健治 , 後藤 忠徳
著者（英語）=Yusuke Matsuura, Kenji Hagiya, Tada-nori Goto
資料名（日本語）=第32回 日本情報地質学会講演会講演要旨 (online)
資料名（英語）=GEOINFORUM-2021 Annual Meeting Abstracts (online)
巻=32
頁=19-20
発行年=2021
発行者（日本語）=日本情報地質学会
発行者（英語）=Japan Society of Geoinformatics
論文の言語区分=JA
ID=300025048