地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

ケイ酸塩鉱物中のSiとAlのX線光電子分光分析(R2-P05)(ポスターセッション)(演旨)

論文題名(英語)=X-Ray Photoelectron Spectroscopic Analysis of Si and Al in Silicate Minerals (R2-P05)(Poster session)(abs.)

著者(日本語)=瀬山 春彦

著者(英語)=Haruhiko Seyama

資料名(日本語)=日本鉱物科学会年会講演要旨集 (online)

資料名(英語)=Abstracts with Program, Annual Meeting of Japan Association of Mineralogical Sciences (online)

巻=2017

頁=R2-P05

発行年=2017

発行者(日本語)=日本鉱物科学会

発行者(英語)=Japan Association of Mineralogical Sciences

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN, JA

ISSN番号=13486543

DOI=10.14824/jakoka.2017.0_79

ID=300014600

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/300014600