地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

走査型X線分析顕微鏡と画像処理・解析ソフトウェアを用いたモード測定

論文題名(英語)=Modal analysis using scanning X-ray analytical microscope and image processing and analyzing softwares

著者(日本語)=植木 忠正, 丹羽 正和

著者(英語)=UEKI Tadamasa, NIWA Masakazu

資料名(日本語)=地質学雑誌

資料名(英語)=Journal of the Geological Society of Japan

巻=123

号=12

頁=1061-1066

発行年=2017

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本地質学会

発行者(英語)=Geological Society of Japan

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ISSN番号=00167630

DOI=10.5575/geosoc.2017.0021

ID=201840007

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/201840007