地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]
論文題名（英語）=Major and Trace Element Analyses of Silicate Rocks Using X-ray Fluorescence Spectrometer RIX3000
著者（日本語）=高橋 俊郎, 周藤 賢治
著者（英語）=TAKAHASHI Toshiro, SHUTO Kenji
資料名（日本語）=理学電機ジャーナル（抜刷）
資料名（英語）=Rigaku-Denki Journal (offprint)
巻=28
号=2
頁=25-37
発行年=1997
出版国=JPN
発行者（日本語）=理学電機図書出版社
発行者（英語）=Rigaku Denki Tosho Shuppansha
論文の言語区分=JA
ID=201611068