地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

蛍光X線分析装置による岩石試料の定量分析（1）

著者（日本語）=後藤 篤, 巽 好幸

資料名（日本語）=理学電機ジャーナル（抜刷）

資料名（英語）=Rigaku-Denki Journal (offprint)

巻=22

号=1

頁=28-44

発行年=1991

出版国=JPN

発行者（日本語）=理学電機図書出版社

発行者（英語）=Rigaku Denki Tosho Shuppansha

論文の言語区分=JA

ID=201611065

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/201611065