地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

Os蒸着膜を用いたマイクロプローブ法による軽元素定量(SMP47-P15)(ポスターセッション)(演旨)

論文題名(英語)=Light element quantification using electron microprobe and Os surface coating (SMP47-P15)(poster session)(abs.)

著者(日本語)=大藤 弘明, 山本 昌志, 小島 洋平

著者(英語)=OOFUJI Hiroaki, YAMAMOTO Masashi, KOJIMA Yohei

資料名(日本語)=日本地球惑星科学連合大会予稿集(DVD)

資料名(英語)=Abstracts, Japan Geoscience Union Meeting (DVD)

巻=2014

頁=SMP47-P15

発行年=2014

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本地球惑星科学連合

発行者(英語)=Japan Geoscience Union

論文の言語区分=EN

ID=201570217

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/201570217