地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

低希釈ガラスビードによる岩石試料の蛍光X線分析--主成分元素と微量成分元素の同時測定法とその精度--

論文題名（英語）=XRF Analysis of Rock Samples by Low Dilution Glass Beads: Simultaneous Measurements of Major and Minor Elements and its Calibration Accuracies

著者（日本語）=太田 亨

著者（英語）=OHTA Tohru

資料名（日本語）=早稲田大学教育・総合科学学術院学術研究（自然科学編）

資料名（英語）=Gakujutsu Kenkyu (Academic Studies and Scientific Research), Natural Science

号=62

頁=1-9

発行年=2014

出版国=JPN

発行者（日本語）=早稲田大学教育・総合科学学術院

発行者（英語）=Faculty of Education and Integrated Arts and Sciences, Waseda University

論文の言語区分=JA

ISSN番号=21866988

ID=201420997

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/201420997