地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

走査型電子顕微鏡(SEM)用の断層中軸部小型定方位試料の作製法

論文題名(英語)=A sampling method of oriented small sample from fault cores for SEM observation

著者(日本語)=島田 耕史, 亀高 正男, 中山 一彦, 瀬下 和芳, 田中 義浩, 林 俊夫, 田中 遊雲, 下釜 耕太, 岡崎 和彦

著者(英語)=SHIMADA Koji, KAMETAKA Masao, NAKAYAMA Kazuhiko, SESHIMO Kazuyoshi, TANAKA Yoshihiro, HAYASHI Toshio, TANAKA Yukumo, SHIMOGAMA Kota, OKAZAKI Kazuhiko

資料名(日本語)=地質学雑誌

資料名(英語)=Journal of the Geological Society of Japan

巻=119

号=11

頁=727-731

発行年=2013

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本地質学会

発行者(英語)=Geological Society of Japan

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ISSN番号=00167630

DOI=10.5575/geosoc.2013.0050

ID=201324633

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/201324633