走査型電子顕微鏡（SEM）を用いた断層破砕帯の定方位試料の微細組織観察(R14-P-7)(ポスターセッション)(演旨)

地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

論文題名（英語）=Microstructure observation of oriented samples form fault zone using Scanning Electron Microscope (R14-P-7)(poster session)(abs.)

著者（日本語）=亀高正男, 島田耕史, 中山一彦, 瀬下和芳, 田中義浩, 林俊夫, 下釜耕太, 岡崎和彦

著者（英語）=KAMETAKA Masao, SHIMADA Koji, NAKAYAMA Kazuhiko, SESHIMO Kazuyoshi, TANAKA Yoshihiro, HAYASHI Toshio, SHIMOGAMA Kota, OKAZAKI Kazuhiko

資料名（日本語）=日本地質学会第119年学術大会講演要旨

資料名（英語）=Abstracts, the 119th Annual Meeting of the Geological Society of Japan

巻=119

頁=266-266

発行年=2012

出版国=JPN

発行者（日本語）=日本地質学会

発行者（英語）=Geological Society of Japan

論文の言語区分=JA

ISSN番号=13483935

ID=201210969