地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

赤外分光測定法--基礎と最新手法--　第2部 各種測定法　第5回 7B. 薄膜・界面の外部反射測定法

論文題名（英語）=Experimental Infrared Spectroscopy - Fundamentals and Practical Methods - 7B. External-Reflection Spectrometry for Analysis of Thin Films and Surfaces

著者（日本語）=長谷川 健

著者（英語）=HASEGAWA Takeshi

資料名（日本語）=分光研究

資料名（英語）=Journal of the Spectroscopical Society of Japan

巻=59

号=5

頁=241-247

発行年=2010

出版国=JPN

発行者（日本語）=日本分光学会

発行者（英語）=Spectroscopical Society of Japan

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ISSN番号=00387002

ID=201022849

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/201022849