地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

偏光光学系蛍光X線分析装置を用いるコーヒー豆の微量元素分析及び産地判別への適用

論文題名(英語)=Determination of Trace Elements in Coffee Beans by XRF Spectrometer Equipped with Polarization Optics and Its Application to Identification of Their Production Area

著者(日本語)=赤峰 生朗, 大高 亜生子, 保倉 明子, 伊藤 勇二, 中井 泉

著者(英語)=AKAMINE Takao, OTAKA Akiko, HOKURA Akiko, ITO Yuji, NAKAI Izumi

資料名(日本語)=分析化学

資料名(英語)=Bunseki Kagaku

巻=59

号=10

頁=863-871

発行年=2010

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本分析化学会

発行者(英語)=Japan Society for Analytical Chemistry

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=JA, EN

ISSN番号=05251931

DOI=10.2116/bunsekikagaku.59.863

ID=201022829

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/201022829