地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

Rh/WデュアルX線管を用いた低希釈率ガラスビード法による岩石中の主成分,微量成分および希土類の分析

論文題名(英語)=Analysis of Major, Trace and Rare Earth Elements in Geological Samples Using Low Dilusion Glass Bead

著者(日本語)=山田 康治郎, 河野 久征, 白木 敬一, 永尾 隆志, 角縁 進, 大場 司, 川手 新一, 村田 守

著者(英語)=YAMADA Yasujiro, KOHNO Hisayuki, SHIRAKI Keiichi, NAGAO Takashi, KAKUBUCHI Susumu, OBA Tsukasa, KAWATE Shinichi, MURATA Mamoru

資料名(日本語)=X線分析の進歩,29

資料名(英語)=Advances in X-ray Chemical Analysis Japan, 29

頁=47-70

発行年=1998

出版国=JPN

発行者(日本語)=アグネ技術センター,東京

発行者(英語)=Agne Gijutsu Center, Tokyo

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=JA, EN

ISSN番号=09117806

ISBN番号=4-900041-66-1

ID=201020520

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/201020520