地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]
論文題名（英語）=Analysis of Total Silicon in Ultra Pure Water Using-Total Reflection X-Ray Fluorescence
著者（日本語）=岩森 智之, 鳥山 由紀子, 今岡 孝之
著者（英語）=IWAMORI Tomoyuki, TORIYAMA Yukiko, IMAOKA Takashi
資料名（日本語）=X線分析の進歩，28
資料名（英語）=Advances in X-ray Chemical Analysis Japan, 28
頁=187-194
発行年=1997
出版国=JPN
発行者（日本語）=アグネ技術センター，東京
発行者（英語）=Agne Gijutsu Center, Tokyo
論文の言語区分=JA
ISSN番号=09117806
ISBN番号=4-900041-55-6
ID=201020518