地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

蛍光X線分析法による岩石の主成分・微量成分分析と補正法の評価(演旨)

論文題名(英語)=Major and trace element analysis of rock samples with XRF: evaluation of analytical method with results on reference samples(abs.)

著者(日本語)=小笠原 正継, 水平 学, 下田 玄

著者(英語)=OGASAWARA M., MIZUHIRA M., SHIMODA G.

資料名(日本語)=日本鉱物科学会年会講演要旨集

資料名(英語)=Annual Meeting of Japan Association of Mineralogical Sciences

巻=2007

頁=228-228

発行年=2007

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本鉱物科学会

発行者(英語)=Japan Association of Mineralogical Sciences

論文の言語区分=JA

ISSN番号=13486543

ID=200831667

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200831667