地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

蛍光X線分析法による土壌環境評価--土壌環境施策で求められる簡易調査法の最初のJIS規格--

著者(日本語)=丸茂 克美

資料名(日本語)=産総研Today

巻=8

号=10

頁=31-31

発行年=2008

出版国=JPN

発行者(日本語)=産業技術総合研究所

発行者(英語)=National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)

論文の言語区分=JA

ISSN番号=18800041

ID=200824517

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200824517