地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

走査型電子顕微鏡を用いたモード測定(演旨)

論文題名(英語)=Modal Analysis Using Scanning Electron Probe Microanalyzer(abs.)

著者(日本語)=松本 啓作, 平島 崇男

著者(英語)=MATSUMOTO Keisaku, HIRAJIMA Takao

資料名(日本語)=日本鉱物学会,日本岩石鉱物鉱床学会学術講演会講演要旨集

資料名(英語)=Annual Meeting for the Mineralogical Society of Japan / Annual Meeting for the Japanese Association of Mineralogists, Petrologists and Economic Geologists

巻=2005

頁=247-247

発行年=2005

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本鉱物学会, 日本岩石鉱物鉱床学会

発行者(英語)=Mineralogical Society of Japan / Japanese Association of Mineralogists, Petrologists and Economic Geologists

論文の言語区分=JA

ISSN番号=13486543

DOI=10.14824/jampeg.2005.0.68.0

ID=200529645

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200529645