地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

尻屋鉱山における残壁監視計測（演旨）

著者（日本語）=中村 直昭, 藤 康弘, 津嘉山 良治, 山崎 修一

資料名（日本語）=資源・素材2000　1. 企画発表・一般発表(A)岩盤工学

頁=23-26

発行年=2000

出版国=JPN

発行者（日本語）=資源・素材学会

論文の言語区分=JA

ISSN番号=09197915

ID=200428667

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200428667