地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

蛍光X線分析装置による岩石の簡易分析

論文題名(英語)=A simple method of analysis of silicate rocks using X-ray fluorescene

著者(日本語)=西本 昌司

著者(英語)=NISHIMOTO Shoji

資料名(日本語)=名古屋市科学館紀要

資料名(英語)=Bulletin of Nagoya City Science Museum

号=19

頁=23-28

発行年=1993

出版国=JPN

発行者(日本語)=名古屋市科学館

発行者(英語)=Nagoya City Science Museum

論文の言語区分=JA

ID=200315419

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200315419