地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

蛍光X線顕微鏡--位置走査を必要としない元素イメージング技術を中心に--

論文題名(英語)=X-Ray Fluorescence Microscope - Recent Trends of New Element Mapping Technique without Scans -

著者(日本語)=桜井 健次, 江場 宏美, 水沢 まり

著者(英語)=SAKURAI Kenji, EBA Hiromi, MIZUSAWA Mari

資料名(日本語)=ぶんせき

資料名(英語)=Bunseki

号=347

頁=644-651

発行年=2003

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本分析学会

発行者(英語)=Japan Society for Analytical Chemistry

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=JA

ISSN番号=03862178

ID=200315403

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200315403