地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

電子線マイクロプローブによる石英中のAl分析のためのシリカガラス標準試料(ポスターセッション)(演旨)

論文題名(英語)=Synthetic silica glass for trace aluminum analysis in quartz by electron microprobe (poster session) (abs.)

著者(日本語)=三好 直哉, 佐藤 久夫, 山口 佳昭, 益田 晴恵

著者(英語)=MIYOSHI Naoya, SATO Hisao, YAMAGUCHI Yoshiaki, MASUDA Harue

資料名(日本語)=日本鉱物学会年会,日本岩石鉱物鉱床学会学術講演会講演要旨集

巻=2002

頁=78-78

発行年=2002

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本鉱物学会, 日本岩石鉱物鉱床学会

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

DOI=10.14824/kobutsu.2002.0.78.0

ID=200208922

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200208922