地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

SIMS(二次イオン質量分析法)によるSi同位体比測定法の開発及びCAIsへの応用(C009-P001)(ポスターセッション)(演旨)

論文題名(英語)=Development of a new method for the measurment of Si-isotopic compositions with SIMS and Application to CAIs (C009-P001) (poster session) (abs.)

著者(日本語)=水野 珠美, 杉浦 直治, 比屋根 肇, 牛久保 孝行

著者(英語)=MIZUNO Tamami, SUGIURA Naoji, HIYAGON Hajime, USHIKUBO Takayuki

資料名(日本語)=地球惑星科学関連学会合同大会予稿集(CD-ROM)

資料名(英語)=Abstracts, 2002 Japan Earth and Planetary Science Joint Meeting (CD-ROM)

巻=2002

頁=C009-P001

発行年=2002

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本海洋学会, 日本火山学会, 日本岩石鉱物鉱床学会, 日本気象学会, 日本鉱物学会, 他

発行者(英語)=Oceanographic Society of Japan! Volcanological Society of Japan! Japanese Association of Mineralogists, Petrologists and Economic Geologists! Meteorological Society of Japan! Mineralogical Society of Japan! et al.

論文の言語区分=JA, EN

ID=200206458

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200206458