地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

X線マイクロアナライザ

著者(日本語)=内山 郁, 渡辺 融, 紀本 静雄

頁=6,243,6

発行年=1972

出版国=JPN

発行者(日本語)=日刊工業新聞社,東京

論文の言語区分=JA

ID=200202773

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200202773