地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

角閃石族鉱物のX線Rietveld解析(ポスターセッション)(演旨)

論文題名(英語)=Evaluation of the X-ray Rietveld method for the characterization of amphibole-group minerals (poster session) (abs.)

著者(日本語)=安藤 由美, 石田 清隆

著者(英語)=ANDO Yumi, ISHIDA Kiyotaka

資料名(日本語)=南極地学シンポジウムプログラム・講演要旨

資料名(英語)=Symposium on Antarctic Geosciences Program and Abstracts

巻=20

頁=131-133

発行年=2000

出版国=JPN

発行者(日本語)=国立極地研究所

発行者(英語)=National Institute of Polar Research

論文の言語区分=JA

ID=200102333

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200102333