地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

極浅層反射法探査による活断層のイメージング--千屋断層・富士見断層群を例として--(P080)（ポスターセッション）（演旨）

論文題名（英語）=High resolution very shallow seismic reflection profiling across active faults: a case study of Senya fault and Fujimi fault system (P080) (poster session) (abs.)

著者（日本語）=松多 信尚, 今泉 俊文, PRATT Thomas, WILLIAMS Robert, 佐藤 比呂志, 池田 安隆, 蔵下 英司, 加藤 直子, 荻野 スミ子

著者（英語）=MATSUTA Nobuhisa, IMAIZUMI Toshifumi, PRATT Thomas, WILLIAMS Robert, SATO Hiroshi, IKEDA Yasutaka, KURASHIMO Eiji, KATO Naoko, OGINO Sumiko

資料名（日本語）=日本地震学会講演予稿集秋季大会

資料名（英語）=Programme and Abstracts, the Seismological Society of Japan, Fall Meeting

巻=2000

頁=204-204

発行年=2000

出版国=JPN

発行者（日本語）=日本地震学会

発行者（英語）=Seismological Society of Japan

論文の言語区分=JA

ID=200015532

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200015532