地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

X線回折線プロファイルの解析によるスメクタイトの粒径評価について(ポスターセッション)(演旨)

著者(日本語)=米田 哲朗, 渡辺 隆, 林 謙二

資料名(日本語)=粘土科学討論会講演要旨集

巻=44

頁=166-167

発行年=2000

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本粘土学会

論文の言語区分=JA

ID=200015141

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200015141