地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]
著者（日本語）=佐藤 久夫
資料名（日本語）=地質調査所研究講演会資料, 微小領域分析が拓く地球科学--二次イオン質量分析法(SIMS)を中心にして--, 日本産業技術振興協会技術資料 No.301
巻=16
頁=73-79
発行年=2000
出版国=JPN
発行者（日本語）=日本産業技術振興協会
論文の言語区分=JA
ID=200006856
@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/200006856