地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

意外に多い小角散乱実験からの情報（1）：小角散乱の基礎--X線.中性子の小角散乱から何がわかるか--

論文題名（英語）=An Introduction to Small-angle Scattering

著者（日本語）=松岡 秀樹

著者（英語）=MATSUOKA Hideki

資料名（日本語）=日本結晶学会誌

資料名（英語）=Journal of the Crystallographic Society of Japan

巻=41

号=4

頁=213-226

発行年=1999

出版国=JPN

発行者（日本語）=日本結晶学会

発行者（英語）=Crystallographic Society of Japan

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ISSN番号=03694585

DOI=10.5940/jcrsj.41.213

ID=199908185

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/199908185